Entdecken Sie Verborgenes!

Leistungsspektrum

Unsere Dienstleistungen konzentrieren sich auf Analyse von Oberflächentopographie und -chemie:

• Vermessung von Mikro- und Nanostrukturen auf Oberflächen
  (Mikro-)Rauigkeiten

• Kratzfestigkeit

• Oberflächenenergie

• Partikelgrößen- und -verteilungen in Suspensionen

 

Messtechtnik-Geräteliste 

• Rasterkraftmikroskop (AFM - atomic force microscope)
  DME DualScope DS95-50 auf autoprobe M5 Tisch: Ermittlung der Mikro- und Nanotopographie

• Profilometer
  Bruker Dektak 150 AdvAuto 3D: Stylus Profilometer: Vermessung von Oberflächenrauhigkeiten  und Profilen

• Spektroskopisches Ellipsometer
  Sentech SE 801 (UV-VIS) mit Goniometer - Vermessung von Oberflächen und dünnen Schichten auf Oberflächen (Dicke, Brechungsindex)

• Optische Mikroskope: Auflichtmikroskop Nikon Eclipse LV150 mit DS-5M Digitalkamera, Hell- und Dunkelfeld; Stereomikroskop Motic SMZ-168

• Farbmessung: GetSpec 2048

• KRÜSS DSA100 mit Kipptisch: Kontaktwinkel, Oberflächenenergie (von Festkörpern), Oberflächenspannung (von Flüssigkeiten), Abrollwinkel

• Viskosimeter: SV-10 Vibro Viscometer

• Partikelgröße und Zetapotential von Partikeln in Suspensionen. Malvern Zetasizer Nano ZS

• Dichte von Flüssigkeiten, Mettler Toledo Densito 30PX

• Härte von Oberflächenschichten:  

• Bleistifthärte: Erichsen Scratch Hardness Tester Model 291 - ISO 15184:1998-11

• Gitterschnitt Tester: Erichsen Multi-Cross Cutter Model 295 - EN ISO 2409:1994

• Holzfeuchte: Gann Hydromette HT85T

• UV-VIS Spektometrie, incl. Reflexion

• NIR- & IR-Spektroskopie

 

Chemische Laboratorien

 

• Voll ausgestattetes Laboratorium für Sol-Gel-Synthesen
• Anlage zur kontinuierlichen Herstellung von Nanopartikel (micro jet Verfahren)
• Tauchbeschichtungsanlage
• Sprühbeschichtungen
• UV-Härtestraße

 

Reinraum

• Klasse 100 (unter FFU); besser 10000 (ISO 5 bzw. ISO 7) ausgestattet mit:
• NIL: Nanoimprint-Lithographieanlage EVG®620 (UV-NIL, µCP)
• µ-CP: Tooling zur Stempelherstellung
• Spincoating
• Nassarbeitsplätzen

 

Oberflächen- und Chemische Charakterisierung

• UV-VIS und IR-Ellipsometer
• Rastersondenmikroskop (AFM, STM, MFM)
• Vollautomatisches Kontaktwinkelmessgerät inkl. Kipptisch (Krüss DAS 100)
• UV-VIS (incl. Reflexion) & NIR- & IR-Spektroskopie (Perkin Elmer, Bruker)
• Licht- und Fluoreszenzmikroskopie (Nikon)
• DIP - Massenspekrometrie (ThermoFinnigan Trace DSQ)
• Farb- und Glanzgradmessung
• Atlas Suntest XXL+ (incl. Klimakontrolle)
• Malvern Zetasizer nano zs inkl. automatische Titrationseinheit